布魯克公司的 VERTEX 80和 VERTEX 80v高端研究級傅立葉變換紅外光譜儀以其卓越的性能登頂紅外光譜業界的高峰,是領域內前沿尖端應用的首選。 光譜分辨率,優于0.06cm1,覆蓋太赫茲至紫外波段的全光譜范圍,Ultra Scan TM真正準直、高分辨率的專利干涉儀,內置空冷光源及外置高功率水冷光源,計算機遠程控制的5個光路出口及2個入口,全真空設計臺式光譜儀( VERTEX80) 全新推出!全自動并兼容真空的分束器更換器(BMS-c),雙通道、24位高速模數轉換器 VERTEX 80及 VERTEX 80V高端傅立葉紅外光譜儀集布魯克公司近40年研發經驗之大成,將紅外光譜儀技術推向了一個嶄新的高度。
最新的 Ultra Scan TM專利干涉儀
VERTEX 80及 VERTEX 80v均采用最新的真正準直的 UltraScan專利干涉儀,該干涉儀可實現極高的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承及超高質量的光學反射鏡保證了儀器達到最出色的靈敏度和穩定性。80系列適用于各種極限條件下的研究工作,如:高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區的測量。布魯克公司獨特的數字化 DigiTect TM數據采集專利技術有效防止外部信號干擾,確保了極佳的信噪比。
臺式真空光譜儀
VERTEX 8Ov的全鑄鋁光學底座及全真空型光學臺設計使譜儀具備了更高的穩定性。大氣中的水汽吸收在真空環境下被消除,靈敏度及穩定性得到進一步提高。在遠紅外和太赫茲波段該特色尤為突出,并意義重大。結合最新的全自動分束器更換器(BMs-C),用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實現譜區的切換和擴展。
最寬的譜區擴展
VERTEX 80-80v結合不同的光學器件使譜區可覆蓋太赫茲、遠紅外、中紅外、近紅外、可見
光直至紫外光區。預準直的光學器件和真正準直的 Ultra ScanTM專利干涉儀,讓擴展譜區和儀器維護變得更加簡單快捷。
最高的光譜分辨率
VERTEX 80-80V標配的光譜分辨率可達0.2cm-1(切趾函數),能滿足大多數常壓氣相和常溫下測量需求。針對低溫下的高端研究工作,如晶向研究、半導體材料或者低壓下的氣相分析
測量, VERTEX80系列可以提供優于0.06cm-1的高分辨率,這是全球商業化臺式紅外光譜儀
迄今為止達到的最高分辨率。在可見光區譜圖的分辨能力已可超出300,000:1(見右圖)。
全真空光學臺設計
創新的光學設計成就了具有最高靈活性、穩定性和擴展外接能力的高端研究級全真空紅外光
譜儀。其全真空的光學設計,使 VERTEX 80在中紅外、近紅外及遠紅外譜區具備最高的靈敏度,使用戶無需再擔心水蒸氣吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被應用于納米科學領域,并成功獲取低至千分之一表面覆蓋率的單分子層薄膜的信息。
全自動分束器更換功能
全新推出的全自動分束器更換器(BMS-c),實現了全軟件操控譜區擴展且無需打斷真空。該
更換器可同時容納多達4種不同類型的分束器。其獨一無二的功能使 VERTEX 80v真空譜儀占據行業領先地位,進一步降低了從太赫茲到紫外譜區擴展全程中分束器更換的難度。
最佳靈活性
VERTEX系列具備極佳靈活性,在行業同類儀器中居首位。主機周圍右側、前側及左側共有5個出光口,右側及后側共2個入光口。這個特色使得用戶可以同時連接多種附件。例如,儀器后側入光口聯接同步輻射光源,同時右側出光口聯接偏振調制組件(PMA 50),右前側出光口聯接紅外光纖附件,左前側聯接輻射熱測量儀以及左側聯接 HYPERION系列的傅立葉紅外顯微鏡。其靈活性可見一斑。